国家知识产权局信息显示,无锡亿思半导体有限公司申请一项名为“一种上升时间和下降时间的测量方法、装置、介质及设备”的专利,公开号CN121578090A,申请日期为2025年11月。
专利摘要显示,本申请提供一种上升时间和下降时间的测量方法、装置、介质及设备,涉及芯片测试技术领域。本申请提供的技术方案通过将高精度时间测量问题转化为可控延时量的数字化扫描问题,避免了相关技术对高速采样率模数转换器、高带宽示波器等昂贵设备的依赖,仅需比较器、可编程延时电路和触发器等低成本数字器件即可实现精确测量,从而在满足芯片测试精度的前提下显著降低测试成本。
天眼查资料显示,无锡亿思半导体有限公司,成立于2023年,位于无锡市,是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本3000万人民币。通过天眼查大数据分析,无锡亿思半导体有限公司参与招投标项目1次,财产线索方面有商标信息1条,专利信息11条,此外企业还拥有行政许可1个。
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来源:市场资讯