德明利申请NAND闪存自动测试方法专利，可提高测试效率_科技资讯

德明利申请NAND闪存自动测试方法专利，可提高测试效率

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2026-02-14 18:41:39

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国家知识产权局信息显示，深圳市德明利技术股份有限公司申请一项名为“一种NAND闪存的自动测试方法、装置、设备及介质”的专利，公开号CN121506226A，申请日期为2025年10月。

专利摘要显示，本申请提供一种NAND闪存的自动测试方法、装置、设备及介质，涉及闪存测试技术领域，包括：获取待测试的NAND闪存的目标测试脚本；若目标测试脚本的根节点的结构为有序命令链，则从根节点中提取排序第一的命令，作为目标命令；检测目标命令的结构是否为字典；当目标命令的结构为字典时，解析目标命令，得到目标配置信息；从配置的不同目标配置信息和不同处理函数的对照表中，匹配目标配置信息对应的目标处理函数；基于目标处理函数，生成目标命令对应的测试指令；直至生成根节点中所有命令对应的测试指令，得到待测试的NAND闪存的测试结果。本申请可提高测试效率，降低测试编译难度。

天眼查资料显示，深圳市德明利技术股份有限公司，成立于2008年，位于深圳市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本22688.6272万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市德明利技术股份有限公司共对外投资了6家企业，参与招投标项目29次，财产线索方面有商标信息25条，专利信息427条，此外企业还拥有行政许可28个。

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来源：市场资讯

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